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濾光片峰值透過率
濾光片中透過率最高點的數(shù)值。透過率是指濾光坡對目標波段范圍的通過能力,用百分比來表示,例如:濾光片峰值透射率T>90%,是指光通過濾光片后能夠透過的值在90%之上,透射率越大,代表透光能力越好。
濾光片中心波長(CWL)
濾光片用于定義帶通濾光片的中心波長描述頻譜帶寬的中點,濾光片在此之上傳輸。具體是指帶通濾光片在實際應用中所使用的波長,比如光源主峰值是905nm紅外LED燈,那么濾光片需求的中心波長就是905nm。
濾光片半高寬(FWHM)
帶寬是濾光片的最高透過率的1/2處計算出來的波長,左右波長值相減,得出的數(shù)值是多少。比如說濾光片的峰值透過率是最好是96%,濾光片的1/2就是48%,濾光片數(shù)值48%對應的左右波長是945nm和905nm,那半帶寬就是40nm。
濾光片截止范圍
截止范圍主要是濾光片不通過的光譜區(qū)域波長涵蓋的范圍。
濾光片截止深度(OD值)
截止深度又指截止的程度也稱為:光密度,截止帶中允許能透過光的最大透過率大小。對不同的應用系統(tǒng)對截止深度要求不同,比如對于使用在激發(fā)光熒光的場合,一般要求截止深度在T<0.001%以下,在普通的監(jiān)控識別系統(tǒng)中,截止深度T<0.5%有時已經(jīng)足夠。為簡便起見,經(jīng)常用OD值來表示截止深度。
濾光片入射角度
入射光線和濾光片表面法線之間的夾角。當光線正入射時,入射角為0°,有些因為特殊設(shè)計要求的濾光片或者光學元器件會有特定的入射角度,比如45°入射的光學反射鏡,這個會根據(jù)具體的要求來定義。
濾光片有效孔徑
光學元器件在設(shè)計中會考慮在系統(tǒng)中可以充分利用到的物理區(qū)域,通常與濾光片的外觀尺寸相似,同心尺寸略小些一般都可以有效通光孔徑達到90%以上。
高反(HR): 光通過濾光片大部分被反射。
高透(HT): 透過率高,光通過濾光片能量損耗非常小。
濾光片的表面規(guī)格和尺寸參數(shù)
直徑公差:
濾光片直徑的公差影響在使用過程中的影響不是很大,主要考慮的是濾光片安裝在設(shè)備上的話,就要考慮直徑公差了。
通常情況下,直徑的公差在(±0.1 mm)稱為一般質(zhì)量,(±0.05 mm)稱為精密質(zhì)量,(±0.01 mm)稱為高質(zhì)量。
如不是要求限定,在大批量工業(yè)化生產(chǎn)中,采用±0.1 mm即可,公差要求越嚴格,良品率也會相應降低,同樣生產(chǎn)成本(報價)也會隨之變高。我司有高精設(shè)備可達到±0.01 mm精度,具體詳情歡迎來電垂詢400-168-6115!
中心厚度公差
中心厚度是表示濾光片中心部分的厚度。通常情況下,中心厚度的公差在(±0.2mm)稱為一般質(zhì)量,(±0.05mm)稱為精密質(zhì)量,(±0.01mm)稱為高質(zhì)量。
如不是要求限定,在大批量工業(yè)化生產(chǎn)中,采用±0.1 mm即可,公差要求越嚴格,良品率也會相應降低,同樣生產(chǎn)成本(報價)也會隨之變高。
光學元件(最典型的是透鏡)的中心厚度,測量的是光學元件中心部分的材料厚度。中心厚度是通過透鏡的機械軸來測量的,該機械軸是作為透鏡外部邊緣之間的軸來定義的。 透鏡中心厚度的變化會影響光學性 能
濾光片表面質(zhì)量
濾光片的表面質(zhì)量,主要其表面會不可避免地有一些劃痕和坑點等缺陷,表面質(zhì)量國內(nèi)最常用的規(guī)格是由MIL-PRF-13830B說明的劃痕和坑點規(guī)格,坑點名稱是通過以微米計的坑點直徑除以10來計算的,通常劃痕坑點規(guī)格在80至50范圍內(nèi)將稱之為標準質(zhì)量;在60至40范圍內(nèi)視為精確質(zhì)量;而在20至10范圍內(nèi)將視為高精度質(zhì)量。
濾光片表面的質(zhì)量用來衡量光學產(chǎn)品表面特性,并且涵蓋了一些劃痕和坑點等瑕疵。這些濾光片表面的大部分瑕疵純粹是表面上的瑕疵,并不會對系統(tǒng)性能產(chǎn)生很大的影響,雖然,它們可能會使系統(tǒng)通光量出現(xiàn)微小的下滑,使散射光出現(xiàn)更細微的散射。有些濾光片表面會對這些影響更敏感。特別是高功率激光設(shè)備中表面質(zhì)量不良,增加能量吸收而損壞光學膜層性能。
濾光片表面平面度
表面平面度是測量表面精度的一種,它用于測量反射鏡、窗口片、棱鏡或平光鏡等平面的偏差,平滑度的偏差通常是按波紋值(λ)來測量的,它們是由多個波長的測試源組成,一個條紋對應1/2的波長,平滑度為1λ,則代表一般的質(zhì)量級別;平滑度為λ/4,則代表精確的質(zhì)量級別;平滑度為λ/20,則代表高精度的質(zhì)量級別。
表面平面度是一種測量表面精度的規(guī)格類型,它用于測量濾光片、反射鏡、窗口片、棱鏡或平光鏡等平面的偏差。當所測試的光學產(chǎn)品的平面靠著光學平晶放置時,會出現(xiàn)條紋,其形狀表示所檢測的光學產(chǎn)品的表面平面度。
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